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Socket (单个芯片TC测试)快速冷热冲击试验机

Socket (单个芯片TC测试)快速冷热冲击试验机

  • 所属分类:5G光通信半导体IC芯片测试设备
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2020-04-03
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数
  • 安全与配置

设备名称

TEC快速冷热冲击试验

设备型号

MYC-55F

性能技术指标

温度范围

-55℃~+125℃

控制精度

±1.0℃

温度设定及显示精度

0.1℃

DUT全自动压力控制

2kg-18kg/Force +/-1 kg

内置气压控制

6-8kg/cm

外箱尺寸

280*265*520mm(W*H*D)

DUT尺寸

From 2x2mm to 40x40mm

温度变化速度

 

25°C to -40°C in   < 2 min,

  25°C    to 125°C  in < 1 min

温度控制

气体温度与样品温度可选择测控。

温度传感器

PT100铂金电阻电

操作界面

触摸屏工业级系统, 稳定性更高

操作方式

  程序方式、定值方式

状态显示

温度设定并实时显示

数据存储

  数据档可以存储在优盘中

数据图表

带有时间/温度图表

数据记录

数据可以记录到档或转存计算机中

通讯接口

RS232/RS485/TCP,可追加GPIB

校准方式

手动/App校准

供给气体干燥度

温度20~25,露点-70以下气体或N2

供给气体

  压力:<0.5cfm (1.5-3.0 PSI)

   

AC220V 50HZ  /10A

支撑的封装形式

BGA ?FCBGA ?LGA ?QFN ?QFP ?CSP ?WLCSP ?Bare Die ?and   more

运行功率

300W左右

安装方式

户内安装

环境工作温度

-10~+45℃  

相对湿度

15~90%R  

海拔高度

小于2000米

使用环境

无剧烈振动和冲击以及垂直倾斜度不超过5%的场所 ;

交流供电电压

单相AC220V±10% ,频率50HZ   。


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